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| 品質控管系統(SPC) |
| Statistical Process Control |
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| 品管項目參數設定 |
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| 使用者自定品管項目(計量/計數)與管制條件；不同的管制條件內容 (如客戶、產品、設備、模具…)組成各張管制圖，使用者可自訂管制規格界限(USL，LSL，UCL，CL，LCL)、分組取樣數、及管制法則(West Electric Rules 及自定的 Rules)，或抽樣水準、允收水準(AQL)。 |
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| 資料收集及管制 |
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| 計數及計量品質資料的收集提供機台連線、人為輸入以及轉檔等多樣收集方式。檢驗過程中，系統會主動取得WIP生產資料、相關的管制設定與檢測樣本，並提供適當的輸入介面，並依據管制設定或抽樣計劃之允收允退標準，繪製管制圖(Xbar-R、Xbar-S、X-Rm)，即時判定檢驗結果，產生品質異常單，寄發異常通知。 |
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| 品質分析 |
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| 提供多層別(如客戶、產品、設備、模具…)的統計分析處理，包括檢測批品質狀況查詢、各相關管制圖分析(Xbar-R、Xbar-S、X-Rm、直方圖、柏拉圖、…)、統計報表、管制圖查覽等等功能。 |
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